反光材料之逆反射光度特性反映了逆反射性能的強(qiáng)弱，是衡量反光材料好壞的重要指標(biāo)，所以確定合適的逆反射光度特性測量方法是非常重要的。
根據(jù)國際照明委員會(CIE)規(guī)定，逆反射的光度特性指標(biāo)有發(fā)光強(qiáng)度系數(shù)和逆反射系數(shù)，其光度特性測量時，樣品參考中心處在光源的照明軸線上，光探測器在光源的正上方，光探測器與樣品參考中心的距離保持不變，通過改變光探測器的位置來改變觀察角，而入射角的變化既可以由樣品圍繞參考中心旋轉(zhuǎn)來實現(xiàn)，這就是第一種測量方法——直接測量方法，也可以通過光源位置的變換來實現(xiàn)，這就是第二種測量方法——相對測量法。
相對測量法使用一個已經(jīng)校準(zhǔn)過的逆反射器或樣作為參考標(biāo)準(zhǔn)對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，用儀器測量的樣品的讀數(shù)與參考標(biāo)準(zhǔn)上測出的讀數(shù)之比乘以參考標(biāo)準(zhǔn)給定的已知的逆反射光度量值，就得出了樣品的逆反射光度量值。該類儀器外型小巧、攜帶方便、操作簡單、對環(huán)境要求較低等優(yōu)點。但其測量準(zhǔn)確度主要依靠參考標(biāo)準(zhǔn)，對其要求很高，不同的測量呈幾何條件應(yīng)有不同的校準(zhǔn)值，同時由于測量光路短、光斑面積小、測量面積稍大的樣品就要采用多次測量不同點取平均值的做法，這與樣品的實際使用情況有較大差異。
而直接測量法無論是光源的穩(wěn)定性、據(jù)運行、測量中采用光斑面積大于樣品面積，保證了無論在任何入射角情況下，有效反光面積都是樣品的表面積，以及直接測量能夠隨時檢測其本身的精確性、儀器本身的精確性等特點，克服了相對測量法的缺陷。
標(biāo)準(zhǔn)測試機(jī)構(gòu)及大多數(shù)專業(yè)機(jī)構(gòu)所使用的都屬于此類測量儀器。
