在環(huán)境試驗中，環(huán)境試驗設(shè)備廣泛用于產(chǎn)品的研制、存儲、運輸、使用等各個環(huán)節(jié)的可靠性試驗。由于技術(shù)的進步，近幾年試驗設(shè)備得到了較大的發(fā)展，不斷涌現(xiàn)出許多新型試驗設(shè)備，由從前的單一功能參數(shù)向綜合多參數(shù)、多功能方向發(fā)展，鹽霧腐蝕試驗設(shè)備中出現(xiàn)了鹽霧、交變試驗設(shè)備或鹽霧、交變、高低溫試驗設(shè)備（以下統(tǒng)稱為鹽霧高低溫試驗設(shè)備）。此類新型環(huán)境試驗設(shè)備在各軍工科研機構(gòu)配備有相應(yīng)的試驗設(shè)備。

    由于環(huán)境試驗的目的就是要在特定的環(huán)境參數(shù)條件下考核材料、產(chǎn)品的性能，特定環(huán)境條件下環(huán)境參數(shù)測量的準(zhǔn)確與否，直接影響到試驗結(jié)果。因此，環(huán)境參數(shù)的測量技術(shù)與環(huán)境試驗設(shè)備的校準(zhǔn)技術(shù)水平直接影響到環(huán)境試驗技術(shù)的水平。然而，對鹽霧高低溫試驗設(shè)備的檢驗、檢測、校準(zhǔn)卻遇到了新的問題，主要是在鹽霧腐蝕氣氛下的濕度測量存在較大的測量誤差。由于此問題--直沒有得到解決，以至于在國標(biāo)GB10586~ 10592、GB11158~11159試驗箱技術(shù)條件系列標(biāo)準(zhǔn)中沒有此類設(shè)備的試驗箱技術(shù)條件標(biāo)準(zhǔn)，在國標(biāo)GB/T5170電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法系列標(biāo)準(zhǔn)中也沒有此類試驗設(shè)備的檢定方法。目前，很多生產(chǎn)此類試驗設(shè)備的廠家都沒有解決此類問題。

    因此，研究、解決在鹽霧腐蝕氣氛中的濕度測量方法，以及鹽霧高低溫試驗設(shè)備的校準(zhǔn)方法可以為鹽霧交變試驗方法和鹽霧交變試驗設(shè)備提供了技術(shù)保證，為日后制定此類試驗箱的技術(shù)條件標(biāo)準(zhǔn)和檢定方法標(biāo)準(zhǔn)提供了技術(shù)基礎(chǔ)和方法保證，為該類試驗設(shè)備的設(shè)計、研制、生產(chǎn)提供技術(shù)支持，對促進我國標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)的發(fā)展和試驗設(shè)備技術(shù)的發(fā)展作用重大。